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表面處理層無損檢測系統
| Niton 分析儀手持式光譜儀信息 |
| 點擊次數：117 更新時間：2025-06-30 |
Niton 分析儀采用先進的能量色散 X 射線熒光（EDXRF）技術，構建了一套完整的元素分析生態系統。當儀器發射的初級 X 射線束轟擊樣品表面時，元素原子內層電子被激發產生空穴，外層電子躍遷填補空穴時釋放出特征 X 射線熒光。通過高分辨率硅漂移探測器（SDD）捕捉這些具有元素特異性的能量信號，結合 Axon 技術平臺的智能算法，可在 2-60 秒內完成從 Na（11）到 U（92）共 70 余種元素的定性定量分析。 以鋁合金成分檢測為例，傳統濕法分析需 2 小時以上的前處理流程，而 Niton XL2 型號可在現場直接穿透氧化膜，精確測定 Si、Mg、Cu 等合金元素的百分占比，誤差控制在 ±0.1% 以內。這種 "即測即得" 的技術優勢，改變了實驗室檢測的時空限制 |
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菲希爾測厚儀
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