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菲希爾代理Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀

作為測量鍍層厚度簡單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結構， 當允許破壞性測 量時，它提供了一個比 X 射線更經濟的替代方法。
很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內， 很多 材料不需要預設定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關緊要的。

菲希爾代理Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀

標準：DIN EN ISO 2177 ；
大屏幕點陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：
可設置和儲存：50個應用程式、600個數據組；3 000個數據
統計：平均值、zui大值、zui小值、標準偏差、測量次數、Cp、Cpk 和直方圖
使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
接口可通過電纜和傳輸軟件將數據傳到
模擬輸出： 0 ～
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量：
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤
尺寸：
庫侖鍍層厚度測試儀
分步測量： 鍍層厚度和電位差
測量：
Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等
雙層鎳鍍層庫倫測厚儀基本配置：
儀器：
測量臺： V24、V26、V18 等
電解液： F1 ～
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